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PROBE CARD

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윌테크놀러지의 PROBE CARD
윌테크놀러지의 첨단 기술

윌테크놀러지의 첨단 기술

윌테크놀러지의 첨단 기술

반도체 제조 공정 중 Silicon Wafer상의 각 DIE(Chip)에 개별적으로 신호를 보내 양품/불량을 검사하는 목적으로 사용되며, 신호 전달의 매개체인 PCB와 Chip의 각 Pad에 직접 접촉하는 Pin(Needle)부로 구성되어 있습니다. 메모리/비 메모리 반도체 및 넓은 의미에서 후 공정 조립(Package) 단계까지 활용되는 반도체 검사 장치입니다.


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윌테크놀러지의 첨단 기술

당사는 비 메모리 분야 중 특히, Display Driver IC(Integrated Circuit)用 Probe Card 분야에서 다양한 Know-How를 축적해 왔으며, 비 메모리 분야를 넘어 메모리 반도체 Application 기술 개발을 통해 Chip Maker의 생산성을 높여 이익을 극대화 하는데 모든 역량을 집중하고 있습니다.


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