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PROBE CARD

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윌테크놀러지의 PROBE CARD
윌테크놀러지의 첨단 기술

윌테크놀러지의 첨단 기술

윌테크놀러지의 첨단 기술

半導体製造工程中、シリコンウェハー上の各DIE(チップ)に個別的に信号を送って良品/不良を検査する目的で使用され、信号伝達の媒介体である基板と、チップの各パッドに直接接触するピン(針)部で構成されています。メモリ/非メモリー半導体と、広い意味での後工程の組み立て(パッケージ)段階まで活用される半導体検査装置です。


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윌테크놀러지의 첨단 기술

当社は、非メモリー分野のうち、特に、ドライバI•C(Integrated Circuit)用プローブカードの分野で様々なノウハウを蓄積しており、非メモリー分野を越えて、メモリ半導体アプリケーション技術開発を通じてチップメーカの生産性を高めることで利益を極大化するためにすべての力量を集中しています。


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